在人工智能大模型爆发和全球算力需求呈指数级增长的今天,传统硅基芯片正面临“摩尔定律”的物理瓶颈。在“电”的传输速率和功耗渐显疲态之时,“光”以其超高速率、超大带宽和极低功耗的物理特性,正成为新一代算力网络的基石。而这颗跳动在数据中心、智能汽车与5G通信网络深处的“心脏”,正是光芯片。

如果说纵观“光芯片产业链全景”,上游的化合物半导体材料是物理基石,下游的AI、算力网络是应用汪洋,那么中游的光芯片制造,无疑是整条产业链的“价值核心”与技术高地。与传统硅基芯片的标准化CMOS工艺不同,光芯片的加工制造依赖于砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)等特殊的衬底材料,其外延生长、光刻刻蚀以及高精度封测过程,充满了极高的技术壁垒。

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01
光芯片核心定义与分类

光芯片是以InP、GaAs、硅等半导体材料为衬底,通过微纳加工工艺制备,以光子为信息载体,完成光电信号转换、调制、传输与处理的核心器件。按功能可分为有源光芯片与无源光芯片两大类。

 有源光芯片:负责实现光电转换,是高速光模块的核心

激光器芯片:

VCSEL(GaAs 系列):短距高速、3D 感知、数据中心短距互联

FP(InP 系列):中低速场景 DFB(InP 系列):25G/50G 主流方案  

EML(InP 系列):800G/1.6T 超高速核心,行业刚需

探测器芯片(InP 系列)

APD:高灵敏、长距传输      

PIN:中短距通用场景

调制器芯片(InP/LiNbO₃系列)光信号高速调制,超高速通信核心部件

 无源光芯片:光路调控枢纽

无光电转换功能,基于 Si/SiO2 体系,核心品类包括 PLC、波分复用、光纤耦合器、光开关等,负责光信号的分配、耦合与切换,是光通信网络的基础支撑。

02
四大主流路线

衬底材料直接决定光芯片上限,当前形成四条主流路线:

1、 磷化铟(InP)

高端主流,电子迁移率高、发光效率优,适配25G+高速长距场景,是800G/1.6T光模块、相干光模块核心方案,全球高端InP基芯片被海外垄断。

2、 砷化镓(GaAs)

中低端主力,成本低于InP,适配10G及以下场景、VCSEL芯片,国内企业已实现规模化自主。

3、 硅光(Silicon Photonics

下一代核心路线,依托CMOS工艺,成本降30%+、功耗降50%,800G及以上光模块、CPO共封装核心方案,2026年渗透率预计突破50%。

4、 薄膜铌酸锂(TFLN)

新兴高端路线,调制速率达100Gbps+,低损耗、高稳定,是3.2T+超高速光模块、下一代CPO核心技术,国内已实现技术突破,处于量产验证阶段。

03
光芯片加工制造流程

光芯片的加工制造流程因材料和技术路线不同而有所差异,以下是常见光芯片(如硅基光芯片、磷化铟基光芯片)的典型加工制造流程:

1、材料准备与衬底制备

硅基光芯片采用绝缘衬底上的硅(SOI)晶圆,由硅衬底、埋氧层(二氧化硅)和顶层硅层组成。通过提纯、拉晶、切割、抛光等工序制备高纯度硅晶圆,确保表面平整度和晶格完整性。

硅晶圆,来源:VDMA

磷化铟(InP)基光芯片以磷化铟晶体为衬底,通过垂直梯度冻结法(VGF)或垂直舟式法(VB)等生长技术制备磷化铟晶锭,再切割、抛光成晶圆,需控制晶圆厚度、翘曲和位错密度。

磷化铟(InP)-薄膜衬底- 精葳光学

磷化铟薄膜衬底,来源:精葳光学

我国在InP和GaAs衬底方面已基本具备进口替代的能力,根据Yole,国产厂商北京通美在2020年已成为全球InP衬底第二大供应商,市占率高达35%,仅次于住友电工;在2019年全球GaAs衬底市场中占据13%的市场份额,位居行业第三。

2、外延生长

在衬底上通过金属有机化学气相沉积(MOCVD)或分子束外延(MBE)技术,生长具有特定光电性能的外延层。例如,在磷化铟衬底上生长铟镓砷磷(InGaAsP)等合金层,形成量子阱结构,以定义光芯片的发光波长、增益特性等关键参数。

  • 按照外延生长材料的类型,外延可分为同质外延和异质外延同质外延是指外延层与衬底材料相同的外延工艺,例如在Si衬底上外延Si,在GaAs衬底上外延GaAs等。这种外延方式能够充分利用衬底的特性,生长出与衬底晶格匹配良好的外延层,减少晶格缺陷,提高外延层的质量。异质外延则是外延层与衬底材料不同的外延工艺,如Si上外延SiGe,GaAs上外延GaAlAs等。异质外延为实现不同材料之间的优势互补提供了可能,通过合理选择外延层和衬底材料,可以获得具有特殊性能的半导体结构,满足不同器件的需求。

  • 按照工艺划分,外延可分为气相外延(VPE)、液相外延(LPE)、固相外延(SPE)和分子束外延(MBE)等不同的外延工艺具有各自的特点和适用范围,在半导体制造中发挥着不同的作用。

  • 按照电阻率高低划分,外延可分为正向外延和反向外延。正向外延是在低阻衬底上外延高阻层(重衬底上外延生长轻掺杂层),而反向外延则是在高阻衬底上外延低阻层(轻掺杂衬底上外延生长重掺杂层)。这种分类方式主要是根据外延层和衬底的电阻率差异来进行的,不同的电阻率分布会对器件的性能产生重要影响。

  • 按照压力划分,可分为常压外延(100kPa)和低压(减压)外延(5 - 20kPa)。压力对外延生长过程中的气体传输、化学反应以及薄膜质量等方面都有着显著的影响,选择合适的压力条件能够优化外延工艺,提高外延层的质量和均匀性。

  • 按照温度划分,可分为反应温度在1000℃以上的高温外延和1000℃以下的低温外延。温度是外延生长过程中的一个关键参数,它直接影响着化学反应速率、原子扩散速率以及外延层的晶体结构和质量。不同的外延工艺和材料对温度的要求各不相同,需要根据具体情况进行精确控制。

外延生长需精确控制温度、压力、气体流量等参数,确保外延层厚度、成分和掺杂均匀性,这是光芯片制造中技术壁垒最高的环节。

3、晶圆制造

光刻:利用光刻技术将芯片设计图案转移到外延片上,定义光波导、光栅、电极等结构。

光刻

刻蚀:通过干法刻蚀或湿法刻蚀,去除多余材料,形成所需的三维结构,如波导通道、光栅齿等。

薄膜沉积与金属化:沉积绝缘层、导电层等薄膜,并通过金属化工艺形成电极和互连结构,实现芯片的电学功能。

平坦化:采用化学机械抛光(CMP)等技术,使晶圆表面平整,便于后续工艺操作。

4、晶圆减薄与解理

减薄:对晶圆进行背面研磨或化学机械抛光,降低厚度,便于后续切割和封装。

晶圆减薄工艺,来源:戴斯洋.硅片磨削损伤演化规律与减薄工艺优化

解理:将晶圆切割成单个芯片,形成可独立使用的光芯片裸片。

5、端面镀膜

在芯片端面沉积抗反射膜或高反射膜,优化光信号的发射和接收效率,减少光损耗。

6、芯片测试分选

电学测试:检测芯片的电气性能,如电流-电压特性、阈值电流、斜率效率等。

光学测试:通过光谱分析、光功率测量、调制响应测试等,评估芯片的光学性能,筛选出合格芯片。

7、封装耦合

芯片贴装:将芯片固定在封装基板或外壳上,通过焊料、胶粘剂等方式实现机械和电气连接。

光耦合:采用主动对准或被动对准技术,将芯片与透镜、光纤等光学元件精确耦合,确保光信号的高效传输。

密封与保护:对封装体进行气密性密封,防止湿气、灰尘等污染物进入,保护芯片性能。

8、终测老化

对封装后的光芯片进行高温老化、温度循环、振动测试等可靠性测试,验证芯片在长期运行条件下的性能和稳定性,确保符合应用要求。

不同类型的光芯片(如硅光芯片、VCSEL芯片等)在具体工艺细节上可能有所差异,但整体流程均围绕衬底制备、外延生长、晶圆制造、封装测试等核心环节展开。

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作者 808, ab